वेफर और लीड फ्रेम कोटिंग मोटाई माप

वेफर और लीड फ़्रेम कोटिंग मोटाई मापन उपकरण का उपयोग रत्न पत्थरों और सोने से बने कीमती गहनों के लिए गैर-विनाशकारी परीक्षण समाधान के रूप में और WEEE और RoHS मानकों के अनुसार ट्रेस तत्वों का विश्लेषण करने के लिए किया जाता है। लंबे समय तक सेवा करने के लिए जानी जाने वाली इस कोटिंग की मोटाई मापने की प्रणाली का उपयोग CDTE और CIS कोटिंग्स की कोटिंग विशेषताओं को निर्धारित करने के लिए भी किया जाता है। यह उपकरण विशिष्ट वायु या वैक्यूम दबाव में कोटिंग के घनत्व का परीक्षण करता है। विशेष मामलों में, यह हीलियम के दबाव में परीक्षण करता है। यह वेफर और लीड फ्रेम कोटिंग थिकनेस मापन उपकरण हीलियम दबाव में द्रव आधारित या गीले नमूने को माप सकता है। इसकी एक्स रे फ्लोरोसेंस आधारित माप पद्धति कोटिंग की सटीकता और विश्लेषण की सटीकता को बनाए रखती है। इस सावधानीपूर्वक डिज़ाइन किए गए उपकरण का उपयोग लीड फ्रेम और पीसी बोर्ड की कोटिंग विशेषताओं का आकलन करने के लिए किया जा सकता है। सूक्ष्म विश्लेषण के उद्देश्य के लिए बिल्कुल सही, इस उपकरण में C स्लॉट के साथ बड़ा माप कक्ष है।

विशेषताएं:

1) कोटिंग की मोटाई मापने वाला यह घोल एक समान या लगभग सादी सतह के लिए उपयुक्त है।
2) इसका प्रोग्रामेबल XY स्टेज इसके ऑटोमैटिक ऑपरेशन को बढ़ावा देता है।
3) लंबा कामकाजी जीवन।
4) उपयोगकर्ता के अनुकूल डिज़ाइन।